バウンダリスキャン研究会を立ち上げました
欧米に比べて普及が大幅に遅れているバウンダリスキャンテストを日本で普及拡大させ、日本の電子製造業の競争力強化に貢献することを目的として、エレクトロニクス実装学会（以下JIEP）内に「バウンダリスキャン研究会」を2018年4月に創設しました。
バウンダリスキャンテスト（以下BS）を実施するためには、LSI/基板設計、設計ツール、LSI製造・提供、BSDL*1提供・流通、BS試験設備開発・提供、BSテスト生成サービス、標準化推進などの多くの分野の関係者が連携する必要があります。本研究会は、各分野の関係者が集まり、日本でバウンダリスキャンを普及させるための知恵を出し合い、それを実行し成果を出す場とします。
(BSDL*1 :Boundary Scan Description Language、BSデバイスのテスト回路構成や命令を記述したものでテスト生成時に必須)
＜活動内容＞
1) 公開研究会、展示会へのバウンダリスキャンゾーン出展、WEB・雑誌等からの情報発信、学会での論文発表、企業訪問などの活動を通してバウンダリスキャンを世の中に広く認知してもらう。
2) 毎月開催する研究会メンバーによる非公開研究会では、最新技術動向(規格/ツール他)、適用事例、設計/テスト生成技術、BSDLファイル流通、応用技術、標準化、普及推進/普及度などの調査/研究/交流活動を行い、メンバーの技術力向上をはかる。
＜会員募集＞
研究会のメンバーを広く募集しています。
お申込みはバウンダリスキャン研究会ホームページからお願いします。